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東南大學(xué)教授劉斯揚(yáng):電熱應(yīng)力下碳化硅功率MOSFET損傷的多尺度探測(cè)表征方法

視頻IFWS > IFWS20222025-11-25 13:20
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電熱應(yīng)力下碳化硅功率MOSFET損傷的多尺度探測(cè)表征方法Multi-scale Detection and Characterization of SiC Power MOSFET Damage under Electro-thermal Stress劉斯揚(yáng)東南大學(xué)教授LIU SiyangProfessor of Southeast University
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