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A quantitative analysis of stress-dislocation evolution and application in GaN-on-Si作者：李孟達(dá)，張皇澍，楊志堅(jiān)，吳潔君，于彤軍單位：北京大學(xué)物理學(xué)院寬禁帶半導(dǎo)體研究中心

Lasing characteristics of GaN-based whispering gallery mode optical microcavityAuthor/作者：Feng Yun（云峰）, Peng Hu（胡朋）,Yufeng Li（李虞鋒）, Qiang Li（李強(qiáng)）,Ye Zhang(張燁)Institute：Shaanxi Provincial Key Laboratory of PhotonicsInformation Technology, Xian Jiaotong University