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工作溫度橫跨400度!工研院VLSI發(fā)表世界頂尖“磁性存儲器”技術

日期:2022-06-17 閱讀:556
核心提示:工研院日前宣布,一方面與晶圓制造龍頭臺積電合作開發(fā)世界前瞻的自旋軌道扭矩磁性存儲器(Spin Orbit Torque Magnetoresistive Random Access Memory,SOT-MRAM)陣列芯片,另一方面攜手陽明交大研發(fā)出工作溫度橫跨近400度的新興磁性存儲器技術。
半導體產業(yè)網獲悉,工研院日前宣布,一方面與晶圓制造龍頭臺積電合作開發(fā)世界前瞻的自旋軌道扭矩磁性存儲器(Spin Orbit Torque Magnetoresistive Random Access Memory,SOT-MRAM)陣列芯片,另一方面攜手陽明交大研發(fā)出工作溫度橫跨近400度的新興磁性存儲器技術。
 
工研院表示,這項新興磁性存儲器技術,已在全球半導體領域頂尖“超大型積體技術及電路國際會議”(Symposiumon VLSI Technology and Circuits)發(fā)表相關論文,可望加速產業(yè)躋身下一代存儲器技術領先群。
 
制程微縮是在半導體先進制程的重要趨勢,其中磁阻式隨機存取存儲器(MRAM)具有可微縮至22納米以下的潛力,并擁有高讀寫速度、低耗電,斷電后仍可保持資料特性,特別適用于嵌入式存儲器的新興領域。
 
工研院電子與光電系統(tǒng)所所長張世杰表示,MRAM有媲美靜態(tài)隨機存取存儲器(Static Random Access Memory;SRAM)的寫入、讀取速度,兼具快閃存儲器非揮發(fā)性,近年來已成為半導體先進制程、下一代存儲器與運算的新星。
 
張世杰指出,存儲器若在高寫入速度的前提下,使用的電壓電流越小,代表效率越高,工研院攜手臺積電共同發(fā)表具備高寫入效率與低寫入電壓SOT-MRAM技術,并達成0.4納秒高速寫入、7兆次讀寫的高耐受度。
 
張世杰分享,這比歐洲最大的半導體研究機構比利時微電子研究中心(Interuniversity Microelectronics Centre,imec)多100倍,還有超過10年資料儲存能力等特性,未來可整合成先進制程嵌入式存儲器,應用在AI人工智能、車用電子、高效能運算芯片等領域具有極佳的前景。
 
另一方面,工研院與陽明交大今年也在VLSI共同發(fā)表新興磁性存儲器的高效能運作技術,優(yōu)化自旋轉移矩磁性存儲器(Spin-Transfer-Torque MRAM,STT-MRAM)的多層膜與元件,提高寫入速度、縮短延遲、降低寫入電流與增高使用次數(shù)等特色。
 
工研院指出,新興磁性存儲器在127度到零下269度范圍內,具有穩(wěn)定、高效能的資料存取能力,工作溫度橫跨近400度的多功能磁性存儲器是首次被實驗驗證,未來在量子電腦、航太領域等前瞻應用與產業(yè)上潛力強大。 

來源:科技新報 
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