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國際SiC/GaN產(chǎn)業(yè)格局或加快成型

日期:2023-04-10 閱讀:360
核心提示:相比于第一代和第二代半導(dǎo)體材料,第三代半導(dǎo)體材料具有更高的擊穿場強(qiáng)、電子飽和速率、熱導(dǎo)率以 及更寬的帶隙,更加適用于高頻

 相比于第一代和第二代半導(dǎo)體材料,第三代半導(dǎo)體材料具有更高的擊穿場強(qiáng)、電子飽和速率、熱導(dǎo)率以 及更寬的帶隙,更加適用于高頻、大功率、抗輻射、耐腐蝕的電子器件、光電子器件和發(fā)光器件的制備。氮化鎵 (GaN)作為第三代半導(dǎo)體材料的代表之一,是制作藍(lán)綠激光、射頻微波器件和電力電子器件的理想襯底材料,在 激光顯示、5G 通信、相控陣?yán)走_(dá)、航空航天等方面具有廣闊的應(yīng)用前景。氫化物氣相外延(Hydride vapor phase  epitaxy, HVPE)方法因生長設(shè)備簡單、生長條件溫和、生長速度快,成為目前制備 GaN 晶體的主流方法。由于石 英反應(yīng)器的普遍使用,HVPE 法生長獲得的非故意摻雜 GaN 不可避免地存在施主型雜質(zhì) Si 和 O,使其表現(xiàn)為 n 型電學(xué)性質(zhì),載流子濃度高,導(dǎo)電率低,限制了其在高頻大功率器件的應(yīng)用。摻雜是改善半導(dǎo)體材料電學(xué)性能最 普遍的方法,通過不同摻雜劑的摻雜利用可以獲得不同類型的 GaN 單晶襯底,提高其電化學(xué)特性,滿足市場應(yīng) 用的不同需求。本文介紹了 GaN 半導(dǎo)體晶體材料的基本結(jié)構(gòu)和性質(zhì),綜述了近年來采用 HVPE 法生長高質(zhì)量 GaN 晶體的主要研究進(jìn)展;對 GaN 的摻雜特性、摻雜劑類型、生長工藝以及摻雜原子對電學(xué)性能的影響進(jìn)行了詳細(xì) 介紹。最后簡述了 HVPE 法生長摻雜 GaN 單晶面臨的挑戰(zhàn)和機(jī)遇,展望了 GaN 單晶的未來發(fā)展前景。

Ⅲ族氮化物作為第三代半導(dǎo)體材料的代表,在 光電子和微電子等領(lǐng)域具有重大的應(yīng)用前景,與之 相關(guān)的材料生長和器件研制受到了研究人員廣泛的 關(guān)注,并取得了長足的發(fā)展進(jìn)步。相比于第一代和 第二代半導(dǎo)體材料,以碳化硅(SiC)、氧化鋅(ZnO)、 氮化鎵(GaN)和氮化鋁(AlN)為主的第三代半導(dǎo)體材 料具有更高的擊穿電場、電子飽和速率、熱導(dǎo)率以 及更寬的帶隙,更加適用于高頻、大功率、抗輻射、 耐腐蝕的電子器件、光電子器件和發(fā)光器件的研發(fā) 制造。 

相比于間接帶隙半導(dǎo)體 SiC 以及存在 p 型摻雜 困擾的 ZnO,GaN 作為第三代半導(dǎo)體材料的代表屬 于直接帶隙半導(dǎo)體,具有帶隙寬、擊穿電壓高、熱 導(dǎo)率高、介電常數(shù)小等許多優(yōu)良的性能。由于其 優(yōu)異的光學(xué)、電學(xué)、機(jī)械性能以及熱穩(wěn)定性,已廣 泛應(yīng)用于藍(lán)綠激光器、射頻微波器件等光電子器件 和電力電子器件中,在激光顯示、5G 通信、相控陣 雷達(dá)以及智能電網(wǎng)等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用,并逐漸 成為第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的核心支撐材料。 

根據(jù)襯底材料的不同,GaN 分為同質(zhì)外延生長 與異質(zhì)外延生長。異質(zhì)襯底外延生長 GaN 材料時, 由于異質(zhì)襯底與新生長的GaN之間晶格常數(shù)與熱膨 脹系數(shù)失配的存在,異質(zhì)外延會引起外延層強(qiáng)應(yīng)力 的產(chǎn)生,導(dǎo)致裂紋的出現(xiàn);此外,異質(zhì)襯底的電學(xué) 性質(zhì)、結(jié)構(gòu)特性都會影響外延材料結(jié)晶質(zhì)量(表面形 貌,缺陷密度,內(nèi)應(yīng)力),與同質(zhì)外延相比所獲晶體 質(zhì)量較差(晶片曲率大,位錯密度高)。同質(zhì)外延能夠 彌補(bǔ)異質(zhì)外延的不足,生長獲得高質(zhì)量的晶體。由于GaN 外延生長對襯底質(zhì)量的依賴性強(qiáng),無法顯著 提高新生長晶體的質(zhì)量,需要高質(zhì)量的襯底進(jìn)行彌 補(bǔ),如何獲得大尺寸、高質(zhì)量的 GaN 單晶仍然是目 前的研究重點(diǎn)。 

相較于氨熱法、助溶劑法等方法,氫化物氣相 外延(HVPE)法設(shè)備簡單、成本低、生長速度快,生 長得到的 GaN 單晶尺寸大、均勻性好,易于控制光 電性能,成為國內(nèi)外研究熱點(diǎn),也是目前應(yīng)用最為 廣泛也最有前景的 GaN 單晶商業(yè)生長方法。由于 HVPE 石英反應(yīng)器的使用,使得 GaN 外延生長過程 中不可避免地?fù)饺肓耸┲餍碗s質(zhì) Si 和 O,而且 GaN 內(nèi)部的部分本征缺陷也是施主型的,使得非故意摻 雜 GaN 呈現(xiàn)出 n 型的電學(xué)性質(zhì)。非故意摻雜 GaN 的本底載流子濃度高,導(dǎo)電率低,波動范圍大,限 制了其進(jìn)一步的研發(fā)應(yīng)用。 

為了彌補(bǔ)非故意摻雜 GaN 電學(xué)性質(zhì)的不足,更 好地利用 GaN 優(yōu)異的性質(zhì),需要對其進(jìn)行高純度生 長或摻雜處理。通過對其摻雜可以獲得不同電學(xué)特 性的 GaN 材料,提高其電化學(xué)特性,開闊其應(yīng)用領(lǐng) 域。本文系統(tǒng)綜述了 GaN 晶體的 HVPE 生長與摻 雜的原理與最新研究進(jìn)展,介紹了各種類型摻雜原 子對 GaN 單晶生長的影響,并對 GaN 晶體 HVPE 生長與摻雜的發(fā)展趨勢做出了展望。 

1 GaN晶體

1.1 GaN 晶體結(jié)構(gòu)與缺陷 

常溫常壓下 GaN 單晶為固態(tài),具有三種晶體結(jié) 構(gòu),分別為六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)、立方閃鋅礦結(jié)構(gòu)以及 巖鹽礦結(jié)構(gòu)。在室溫常壓下纖鋅礦結(jié)構(gòu)是熱力學(xué)穩(wěn) 定結(jié)構(gòu),屬于 P63mc 空間群,是 GaN 單晶最常見的 晶體結(jié)構(gòu)。在纖鋅礦 GaN 結(jié)構(gòu)中,每個晶胞中存在 六個 Ga 原子和六個 N 原子。在晶胞中每個 Ga 原子 均被距離最近的四個N原子包圍,形成配位四面體;同樣的,每個 N 原子也被距離最近的四個 Ga 原子 包圍形成四面體配位,因此纖鋅礦結(jié)構(gòu) GaN 也可以 理解為兩套六方點(diǎn)陣套構(gòu)形成,熱力學(xué)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定(見 圖 1(a))。 

由于六方結(jié)構(gòu)的特殊對稱性,六方 GaN 晶系可 采用三軸米勒指數(shù)(hkl)進(jìn)行表示,也可采用四軸的 米勒-布拉維指數(shù)(hkil)表示,其中 i=-(h+k),雖然兩 種表示方式效果相同,但是相比密勒指數(shù),米勒-布 拉維指數(shù)更普遍直觀,得到廣泛應(yīng)用。

在 GaN 晶體中,由于纖鋅礦結(jié)構(gòu)的非中心對稱 性,導(dǎo)致不同方向觀察到的GaN晶體顯示不同的面:在 c 軸方向,即[0001]方向所指的面為 Ga 面,[000-1] 方向所指的面是 N 面(性能存在明顯差異,相比于 N 面,Ga 面更加穩(wěn)定)。由于晶體結(jié)構(gòu)的影響,晶體 的 c 軸([0001])方向具有極性。根據(jù)晶面與[0001]方 向所成夾角的不同將 GaN 的晶面分為三類:第一種 是與[0001]基矢垂直的極性面,也被稱為 c 面、基面 或(000m)面;第二種是與[0001]基矢平行的非極性面, 實(shí)際上只存在兩種非極性面,即 m 面{10-10}和 a 面{11-20};第三種就是與[0001]基矢夾角介于 0°和 90°之間的半極性面(見圖 1(b)))。根據(jù) GaN 樣品 的粉末 X 射線衍射結(jié)果可知,只有有限的晶面真正 包含原子,潛在的半極性面有:{10-10},{10-12}, {10-13},{10-14},{10-15},{11-22},{11-24},{20-21}, {20-23},{30-32},{31-30},{21-32}和{21-33};目 前以{10-10},{10-13},{10-14},{11-22},{20-21} 以及{31-30}為代表的半極性面已被發(fā)現(xiàn)并研究。

完美晶體中的原子是嚴(yán)格周期性規(guī)則排列的, 但生長過程中缺陷的產(chǎn)生不僅破壞了晶體結(jié)構(gòu)的完 整性,還會對晶體的性質(zhì)產(chǎn)生影響。因此研究晶體 中缺陷的產(chǎn)生、相互作用以及對性能的影響對于提 升 GaN 晶體的光電性能,提升 GaN 基器件的效率 和穩(wěn)定性具有重要的意義。GaN 晶體生長過程中缺 陷的產(chǎn)生是不可避免的,根據(jù)尺度和形貌的不同, 缺陷被分為四種[4]:零維缺陷,即點(diǎn)缺陷,與單個 原子的位置有關(guān),如空位(VGa、VN)、間隙原子(Ni、 Gai、間隙雜質(zhì)原子)、替代原子(NGa、GaN、替代雜 質(zhì)原子),摻雜 GaN 就是通過晶體中雜質(zhì)原子形成 點(diǎn)缺陷從而影響晶體的光電性質(zhì)。不同的點(diǎn)缺陷作 為施主、受主或等電子雜質(zhì)發(fā)揮作用,GaN 中常見 的施主有 Ga 格點(diǎn)位置上的 Si、Ge 以及 N 格點(diǎn)位置 的 O、S、Se 等;GaN 中常見的受主有 Ga 格點(diǎn)位置 上的 Mg、Ca、Zn 以及 N 格點(diǎn)位置的 Fe、C、Si、 Ge 等。一維缺陷,也稱線缺陷,與某一個方向有關(guān), 如位錯;二維缺陷,也稱面缺陷,與某個晶面有關(guān), 如晶界,晶面,堆垛層錯;三維缺陷,也稱體缺陷, 與體積相關(guān),如空洞,裂紋,凹坑。 

GaN 的禁帶寬度高達(dá) 3.4 eV,決定了 GaN 材料 在近紫外與藍(lán)綠光光電器件等方面具有得天獨(dú)厚的 優(yōu)勢。高電子遷移率和高飽和電子速率意味著 GaN 可以被應(yīng)用于制作高速電子器件,尤其是二維電子 氣中的高載流子遷移率使得 GaN 基 HEMT 器件得 到廣泛應(yīng)用。而且相對 Si 和 GaAs 等第一、二代半 導(dǎo)體材料而言,GaN 較高的熱導(dǎo)率與擊穿場強(qiáng)使得 GaN 基器件可以在嚴(yán)苛環(huán)境進(jìn)行大功率下工作,應(yīng) 用前景更為廣闊。

1.2 GaN 的 HVPE 生長方法 

GaN 的結(jié)晶是一個相當(dāng)具有挑戰(zhàn)性的過程,其 在極高溫下熔化(>2500 ℃),均勻熔化所需的 N2 壓 力預(yù)計將高于 6 GPa,因此目前無法從熔融體中直 接實(shí)現(xiàn) GaN 生長。目前 GaN 的生長方法有 HVPE 法、助溶劑法、氨熱法、高壓溶液生長法(HNPS)以 及化學(xué)氣相沉積(CVD)等方法。相比于氨熱法、助 溶劑法等傳統(tǒng)方法,HVPE 法具有生長條件溫和、 生長設(shè)備要求低,生長速率快(高達(dá)每小時數(shù)百微米)、 工藝可重復(fù)性高、容易摻雜等優(yōu)點(diǎn),成為 GaN 商業(yè) 制備應(yīng)用最為廣泛的方法,也被認(rèn)為是最具有潛力 的生長 GaN 晶體的方法。HVPE 法的生長速度主要取決于反應(yīng)器的幾何形狀、源氣體流量以及生長溫 度。采用 HVPE 法可以快速生長出低位錯密度的厚膜,其缺點(diǎn)是很難將膜厚進(jìn)行精確控制,反應(yīng)氣體 HCl 對設(shè)備具有一定的腐蝕性,影響 GaN 材料純度 的進(jìn)一步提高。 

HVPE 是基于氣相的生長方法。主要機(jī)理為在 低溫區(qū)(~850 ℃)金屬 Ga 與 HCl 反應(yīng)形成的 GaCl 作為 Ga 源與作為 N 源的 NH3通過 N2和 H2的混合 載氣運(yùn)送到高溫區(qū)(~1040 ℃)的襯底表面在壓力低 于 1 個大氣壓下反應(yīng)生成 GaN,反應(yīng)公式如下所示 (反應(yīng)器結(jié)構(gòu)如圖 2 所示)。

HVPE 生長 GaN 具有兩種生長模式:低溫(Low  temperature, LT)模式和高溫(High temperature, HT) 模式。在這些模式下生長的薄膜因表面粗糙度、凹 坑的密度和形狀以及生長應(yīng)力值不同而存在明顯差 別。HT 模式下表面光滑,但生長應(yīng)力高,容易產(chǎn)生 裂紋。LT 模式下表面粗糙,具有高密度的 V 型凹坑, 但這種薄膜沒有裂紋。 

目前制備 GaN 器件最常用的襯底為 SiC、藍(lán)寶 石(Al2O3)、AlN 等異質(zhì)襯底材料,但是由于異質(zhì)襯 底與 GaN 之間晶格失配和熱膨脹系數(shù)失配的存在, 會對生長所得晶體的質(zhì)量、性能產(chǎn)生不可避免的影 響,降低器件的使用壽命和可靠性。同質(zhì)襯底能夠 減少應(yīng)力和開裂,提高其性能。 

生長工藝對晶體質(zhì)量會產(chǎn)生較大影響。通過生 長過程中對溫度、流量以及 V/Ⅲ的調(diào)整可以有效地 提高 GaN 的晶體質(zhì)量。由于同質(zhì)襯底的缺乏,異 質(zhì)外延仍為 GaN 晶體生長的主流選擇,解決異質(zhì)外 延過程中因失配造成應(yīng)力尤為重要。其中最為嚴(yán)重 的影響當(dāng)屬GaN與異質(zhì)襯底間由于晶格失配和熱失 配而造成的開裂,限制了大尺寸單晶的完整獲取, 為了避免開裂,以襯底預(yù)處理為主的輔助技術(shù)應(yīng)運(yùn) 而生。對襯底進(jìn)行蝕刻預(yù)處理以及緩沖層的 加入也能夠降低生長所得晶體內(nèi)缺陷(位錯)的密度, 提高 GaN 的晶體質(zhì)量。多孔襯底是半導(dǎo)體生長技術(shù) 中實(shí)現(xiàn)低位錯密度的簡單方法,為晶格失配材料的 異質(zhì)外延生長提供了可靠的應(yīng)用,顯著降低異質(zhì)外 延過程中產(chǎn)生的應(yīng)力,提高外延層的光學(xué)質(zhì)量。Liu 等在 2021 年通過將低溫 AlN 緩沖層以及 3D  GaN 中間層結(jié)合的方式,利用激光剝離技術(shù)(Laser  lift-off technique, LLO)成功在藍(lán)寶石襯底上獲得高 晶體質(zhì)量的 2 英寸無裂紋自支撐 GaN,進(jìn)一步提高 了 GaN 外延薄膜的晶體質(zhì)量。在 LLO 操作中,激 光輻射通過藍(lán)寶石,被界面處的 GaN 吸收并迅速分 解成金屬 Ga 和 N2,然后產(chǎn)生的 N2 膨脹將界面的兩 側(cè)分離,完成 GaN 的分離。激光掃描速度、激 光強(qiáng)度、環(huán)境壓力條件等操作參數(shù)都會影響分 離的 GaN 材料的質(zhì)量,需要對其精確調(diào)整。在激光 發(fā)射后,GaN 薄膜中的壓縮應(yīng)力主要來自于 GaN 薄 膜與藍(lán)寶石襯底之間的熱失配。由界面 GaN 分解形 成的 N2 的蒸發(fā)壓力和應(yīng)力釋放會造成開裂,通過 增加 GaN 厚度減少壓縮應(yīng)力,能夠更容易實(shí)現(xiàn) GaN 的激光剝離。

1.3 HVPE 法生長

GaN 晶體進(jìn)展 GaN 的晶體生長進(jìn)展穩(wěn)步推進(jìn),國外機(jī)構(gòu)以波 蘭物理研究所,日本的三菱、住友、SCIOCS,美國 的 Kyma 等公司的研制研發(fā)領(lǐng)先;我國在 GaN 半導(dǎo) 體材料領(lǐng)域起步較晚,但已有較多相關(guān)基礎(chǔ)研究技 術(shù)儲備,其中蘇州納維、中鎵 2 英寸 GaN 晶體已實(shí) 現(xiàn)量產(chǎn),山東大學(xué)、中國電子科技集團(tuán)有限公司第 四十六研究所等單位也取得了長足的進(jìn)步。 在功率半導(dǎo)體中,GaN和SiC都是優(yōu)于傳統(tǒng)Si的材料,可實(shí)現(xiàn)更高的速度、更大的節(jié)能、更快的充電,并顯著降低尺寸、重量和成本。

2022年盡管消費(fèi)電子等終端市場需求有所下滑,但受益于新能源汽車電驅(qū)系統(tǒng)、光伏儲能、高壓充電樁、軌道交通、移動電源、數(shù)據(jù)中心及通訊基站電源等領(lǐng)域的快速發(fā)展,SiC/GaN功率半導(dǎo)體市場需求相對強(qiáng)勁。

01 GaN快充起量

以消費(fèi)類電子為例,使用GaN芯片的充電器體積小,充電速度更快。自2021年2月,小米新品發(fā)布會上推出明星產(chǎn)品65W GaN充電器引發(fā)市場關(guān)注,GaN快充市場規(guī)??焖偕仙?。從各大消費(fèi)電子品牌到第三方配件廠商,紛紛推出了采用GaN技術(shù)的快充產(chǎn)品。即使是最為謹(jǐn)慎的蘋果,也為最新的筆記本配備了采用GaN技術(shù)的140W快充充電器。當(dāng)前,百瓦級GaN大功率快充產(chǎn)品已經(jīng)進(jìn)入成長期,進(jìn)一步加速GaN在消費(fèi)應(yīng)用的規(guī)?;瘮U(kuò)張。就在近日,Navitas宣布其下一代GaNFast™技術(shù)已獲近期發(fā)布的realme GT3(國內(nèi)為realme GT Neo5)隨機(jī)標(biāo)配的240W超快充充電器采用,全球首款240W滿級秒充來了!

02  SiC加速上車

在新能源汽車領(lǐng)域,SiC的需求非常強(qiáng)勁,SiC上車的產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程不斷加快。Infineon最新表示:“SiC能夠顯著提升新能源汽車的續(xù)航里程,或者在相同的續(xù)航里程下,大幅降低電池裝機(jī)量和成本。因此,SiC正在越來越多地被用于牽引主逆變器、車載充電機(jī)OBC以及高低壓DC-DC轉(zhuǎn)換器中”。Navitas也表示:“SiC具備的高壓、高結(jié)溫特性,使得它在800V主驅(qū)系統(tǒng)中產(chǎn)生的價值是其他功率器件所不可替代的”。也就是說,基于SiC對主驅(qū)性能、續(xù)航里程提升,以及更大功率系統(tǒng)在高端車型中的應(yīng)用,主機(jī)廠是認(rèn)可并愿意買單的。僅2023年一季度,國內(nèi)外已宣布或準(zhǔn)備上車SiC的車企超過20家,包括比亞迪、特斯拉、大眾、奔馳、寶馬、奧迪、現(xiàn)代等。其中,Infineon與現(xiàn)代集團(tuán)簽訂數(shù)億歐元SiC訂單,Infineon SiC器件將被用于現(xiàn)代、起亞和捷尼賽思等汽車的主驅(qū)電控逆變器;Onsemi與寶馬汽車集團(tuán)(BMW)簽署長期供貨協(xié)議,其750V EliteSiC模塊將上車寶馬的400V電動動力傳動系統(tǒng);邁凱倫表示,其800V逆變器將搭載意法半導(dǎo)體的SiC模塊;路虎攬勝宣布采用Wolfspeed SiC技術(shù)……

03  SiC+GaN引發(fā)關(guān)注

SiC商用比GaN更加成熟,受到產(chǎn)業(yè)和資本更多關(guān)注。GaN憑借其高頻特性,獨(dú)具發(fā)展?jié)摿?。上個月,作為全球功率半導(dǎo)體大廠的Infineon突然收購了GaN初創(chuàng)公司GaN Systems,而全球GaN細(xì)分領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者Navitas早在去年8月份就收購了SiC企業(yè)GeneSiC。一時間,SiC+GaN成為行業(yè)議論熱點(diǎn),引發(fā)市場更多關(guān)注!是SiC和GaN開始互卷了嗎?還是其中蘊(yùn)含的機(jī)會更大了呢!

04  Infineon“超預(yù)期”收購GaN Systems

Infineon于1999年正式成立,2000年上市,是全球領(lǐng)先的IDM半導(dǎo)體公司之一。總部位于德國,業(yè)務(wù)遍及全球,主要為汽車和工業(yè)功率器件、芯片卡和安全應(yīng)用提供半導(dǎo)體和系統(tǒng)解決方案,并且在Si基功率半導(dǎo)體中占據(jù)重要地位。

2023年3月,Infineon以8.3億美元收購GaN初創(chuàng)公司GaN Systems,通過此次收購,Infineon將同時擁有Si、SiC和GaN三種主要的功率半導(dǎo)體技術(shù)。本次收購備受業(yè)內(nèi)關(guān)注,因?yàn)閮H有GaN業(yè)務(wù)的GaN Systems幾乎獲得了與GaN細(xì)分領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者Navitas相近的估值!

GaN Systems于2008年在加拿大渥太華成立,是一家專注于GaN功率器件的研發(fā)、設(shè)計公司。GaN Systems研發(fā)出全功率范圍的GaN功率開關(guān)管,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于通信電源、工業(yè)電源及交通電源等市場。GaN Systems獨(dú)特的lsland Technology®技術(shù)革命性的提升了產(chǎn)品成本、性能和可量產(chǎn)性,使芯片更小、更高效。

05 Navitas加速橫向并購

Navitas成立于2014年,是全球著名的GaN功率IC公司,2021年正式在美國納斯達(dá)克上市??偛课挥趷蹱柼m,在中國的上海、杭州、深圳和美國的洛杉磯設(shè)有研發(fā)中心。Navitas GaN IC集成了GaN電源和驅(qū)動器以及保護(hù)和控制功能,充電速度更快、功率密度更高、節(jié)能效果更強(qiáng),適用于移動、消費(fèi)、企業(yè)、電子移動和新能源市場。與ST、Onsemi、Infineon等IDM廠商不同,Navitas作為GaN器件設(shè)計公司,在完成IC設(shè)計之后,主要通過臺積電等代工企業(yè)代工,并通過Amkor等封測廠完成封裝測試。目前,Navitas與包括X-FAB在內(nèi)的12家以上的伙伴展開了合作,以確保產(chǎn)能和交付能力。

2021年5月,Navitas宣布與Live Oak II達(dá)成合并交易并以10.4億美元的企業(yè)價值準(zhǔn)備上市。同年10月,Navitas正式登陸納斯達(dá)克,上市當(dāng)日市值超過16億美元,總?cè)谫Y額超3.2億美元。該筆交易為Navitas的未來增長計劃提供資金支持,也為之后的連續(xù)并購奠定基礎(chǔ)。

2022年7月,收購先進(jìn)數(shù)字隔離器廠商VDD Tech,其隔離技術(shù)是Navitas不斷增長的電源和控制集成戰(zhàn)略的關(guān)鍵部分。

VDD Tech是用于下一代功率轉(zhuǎn)換的先進(jìn)數(shù)字隔離器的創(chuàng)造者,其專有調(diào)制技術(shù)可在兆赫茲以上的開關(guān)速度下實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、可靠、高效的電源轉(zhuǎn)換,在消費(fèi)類、電機(jī)驅(qū)動、太陽能、數(shù)據(jù)中心和電動汽車等大功率市場中實(shí)現(xiàn)尺寸、重量和系統(tǒng)成本的改進(jìn)至關(guān)重要。

2022年8月,2.78億美元收購SiC企業(yè)GeneSiC,業(yè)務(wù)線拓展至SiC市場,Navitas GaNFast+GeneSiC雙管齊下,并駕齊驅(qū)。

GeneSiC成立于2004年,在SiC功率器件設(shè)計和工藝方面擁有深厚專業(yè)知識,2021年SiC功率器件營收全球排名第八,主要提供650V~6500V全系列車規(guī)級SiC MOS,產(chǎn)品主要由X-Fab代工,已經(jīng)在全球知名電動汽車品牌大量出貨。收購?fù)瓿?,GeneSiC憑借Navitas在全球的網(wǎng)絡(luò)布局,有助于協(xié)同新客戶,加速擴(kuò)大市場份額。

2023年1月,2000萬美元收購廣東希荻微電子股份有限公司(以下簡稱“希荻微”)持有的Si控制IC合資公司的少數(shù)股權(quán),Navita認(rèn)為合資公司開發(fā)的專用Si控制器產(chǎn)品經(jīng)過優(yōu)化,能夠與Navita的GaN功率芯片結(jié)合應(yīng)用,在效率、密度、成本及集成度等方面創(chuàng)造新高水準(zhǔn)。

希荻微是國內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體和集成電路設(shè)計企業(yè)之一,主要從事包括電源管理芯片及信號鏈芯片在內(nèi)的模擬集成電路的研發(fā)、設(shè)計和銷售,產(chǎn)品應(yīng)用于消費(fèi)類電子和車載電子領(lǐng)域,現(xiàn)有產(chǎn)品布局覆蓋DC/DC芯片、超級快充芯片、鋰電池快充芯片、端口保護(hù)和信號切換芯片、AC/DC芯片等。

2021年底Navitas曾表示:GaN芯片需要慢慢在功率半導(dǎo)體領(lǐng)域替代Si芯片,節(jié)奏似乎并不緊張。但回顧2022年,Navitas GaN有近100款全新GaN極速充電器在全球知名手機(jī)品牌終端推出,Navitas SiC技術(shù)在電動汽車領(lǐng)域應(yīng)用并被集成到超過50%的美國路邊充電器中,目前正在研發(fā)或生產(chǎn)SiC車載充電器……Navitas連續(xù)完成3起并購交易,在增加SiC業(yè)務(wù)的同時,掌控先進(jìn)數(shù)字隔離技術(shù)及Si模擬控制器技術(shù)。Navitas首席執(zhí)行官兼聯(lián)合創(chuàng)始人Gene Sheridan最新表示:2023年將在所有目標(biāo)市場實(shí)現(xiàn)強(qiáng)勁增長,其中包括電動汽車、太陽能/儲能、家電/工業(yè)和移動/消費(fèi)者市場。

06 國際SiC/GaN產(chǎn)業(yè)格局或加快成型

國際上,Onsemi、ST、Rohm等傳統(tǒng)半導(dǎo)體大廠、SiC/GaN巨頭紛紛加快第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)整體布局和業(yè)務(wù)戰(zhàn)略調(diào)整,通過投資擴(kuò)產(chǎn)、收購、合并等方式不斷擴(kuò)大自身規(guī)模,國際企業(yè)競爭卡位格局加快成型。盡管當(dāng)前SiC襯底成本仍舊居高不下,還要考慮良率、缺陷、封裝、器件設(shè)計等方面的多個要素,GaN技術(shù)和工藝商業(yè)化程度更是偏低,但產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢卻愈發(fā)明朗。隨著SiC/GaN技術(shù)的不斷成熟和市場需求的不斷增加,這些巨頭的產(chǎn)業(yè)整合優(yōu)勢將會愈發(fā)凸顯,規(guī)模勢必迅速擴(kuò)大,加速占領(lǐng)市場份額,進(jìn)而奠定產(chǎn)業(yè)格局。

附:2023Q1 國內(nèi)外SiC/GaN相關(guān)并購案

 

(來源:材料深一度)

 

 

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