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應(yīng)用
西安電子科技大學孫汝軍：氧化鎵的電子態(tài)
缺陷
研究
評論 ?
2023-08-01 14:23
CASICON西安站前瞻|西安電子科技大學孫汝軍：氧化鎵的電子態(tài)
缺陷
研究
評論 ?
2023-07-13 15:20
華工科技2022年營收凈利雙增 SiC襯底外觀
缺陷
檢測設(shè)備實現(xiàn)國產(chǎn)替代應(yīng)用
評論 ?
2023-03-01 11:15
中國科大在低維光伏材料點
缺陷
性質(zhì)研究中取得新進展
評論 ?
2022-12-30 09:13
重大突破！科友半導體碳化硅躋身8吋行列，晶體無
缺陷
最大直徑超過204毫米
評論 ?
2022-12-30 08:27
SiC工藝之質(zhì)子注入
缺陷
抑制技術(shù)解決碳化硅層錯難題
評論 ?
2022-12-12 15:24
晶圓切割常見
缺陷
問題分析
評論 ?
2022-11-17 14:42
半導體材料的點空位
缺陷
工程用于環(huán)境修復以及可持續(xù)能源生產(chǎn)
評論 ?
2022-05-10 11:30
北大朱瑞團隊與于海峰團隊合作ACS Energy Letters：鈣鈦礦半導體的多種
缺陷
管理實現(xiàn)高效穩(wěn)定光伏器件
北大朱瑞
于海峰
ACS
Energy
Letters
鈣鈦礦半導體
多種缺陷管理
光伏器件
評論 ?
2021-08-17 09:46
英諾激光：目前公司產(chǎn)品在芯片制造領(lǐng)域的應(yīng)用為晶圓加工
缺陷
檢測、碳化硅退火等制造工序
英諾激光
芯片制造
晶圓加工
缺陷檢測
碳化硅
退火等
制造工序
評論 ?
2021-07-26 10:54
《自然》子刊：分子橋解決半導體
缺陷
，提高導電性及整體性能
評論 ?
2021-03-01 15:24
澳大利亞格里菲斯大學Jisheng HAN：4H-SiC MOS器件中活性
缺陷
的量化表征
評論 ?
2020-12-23 15:25
天津工業(yè)大學于莉媛：GaN基器件電子輻照誘生
缺陷
表征和性能分析
評論 ?
2020-12-03 18:02
臺積電稱EUV技術(shù)讓5納米芯片不良率反低于7納米
納米
密度
缺陷
不良
工藝
制造工藝
評論 ?
2020-08-27 02:28
仍存“
缺陷
”！英特爾7nm芯片生產(chǎn)時間推遲半年上市
英特爾
納米
芯片
制程
工藝
延遲
評論 ?
2020-07-24 06:32
KLA推出全新突破性的電子束
缺陷
檢測系統(tǒng)
電子束
缺陷
系統(tǒng)
檢測
器件
技術(shù)
評論 ?
2020-07-21 05:52
ASML首款用于5nm制程的多光束檢測工具問世
光束
工具
吞吐量
缺陷
計量學
檢測
評論 ?
2020-06-02 01:26
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